SMT Chip Bobin İndüktör Test / Ölçüm Ekipmanları İçin Kapalı Manyetik Devre

Özellikler:

• Kapalı manyetik devre
• Mükemmel lehimlenebilirlikYüksek güvenilirlik
• Boyutlar 0402/0603/0805/1206/1210
• FCC, VDE, CSA, VCCI ve CE ile uyum için karşı önlemler
• Kapalı manyetik devre karışmadan kaçınır
• Yüksek yoğunluklu kurulum ve tekrar akışlı lehimleme için uygun

uygulamaları.Toplam:

• Kişisel bilgisayarlar
• Taşınabilir Ekipman
• Tıbbi malzeme
• Test / Ölçüm Cihazları
• Yazıcı Ekipmanı
• İletişim Cihazı, Cep telefonu, GPS, PDA

Teknik Bilgiler:

1. Test: (Eşdeğerler kabul edilebilir) Endüktans ve Q-HP4195A + HP41951
2. DCR: VOAC-7412
3. elektrot örtülmelidir. Ön ısıtma: @ 180 ℃ ± 5 ℃ 2-3 dakika boyunca Lehim sıcaklığı: 230 ℃ 4 saniye ± 1 saniye Akı: Colophony ile metanol çözeltisine 3 ila 5 saniye süreyle yayılır.
4. IDC: DC önyargı uygulamasıyla, başlangıçtaki L değerinin% 5 oranında düşürüldüğü DC akımı veya elemanın sıcaklığının 20 by arttırıldığı akım değeri
5. Çalışma Sıcaklığı: -40 ℃ ila + 100 ℃

Notlar: Ürün boyutu ve endüktans özelleştirilebilir